欢迎来到雷竞技rebat入口 网站!
雷竞技rebat入口
咨询热线

4008529632

当前位置:首页>产品中心> >全自动测量机台>UltraFilm - 薄膜测量系统

UltraFilm - 薄膜测量系统

简要描述:系统可以为各种材质薄膜提供高精度的厚度均匀性测量。使用创新的融合光谱反射技术、近红外干涉技术以及高亮度光源驱动的光谱椭偏仪技术的多传感器融合测量技术,是国内可以实现同质膜厚全自动检测的系统。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 产品资料:
  • 更新时间:2024-01-19
  • 访 问 量:132

产品分类

Product Category

相关文章

Related Articles

    详细介绍

    系统可以为各种材质薄膜提供高精度的厚度均匀性测量。使用创新的融合光谱反射技术、近红外干涉技术以及高亮度光源驱动的光谱椭偏仪技术的多传感器融合测量技术,是国内可以实现同质膜厚全自动检测的系统。


    一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一


    45327dbb86ad28372fc450ac8947456.png

    *1:静态精度或可称为同点位多次连续测量的最大偏差值,数据为针对50um厚度双抛玻璃片进行实验的结果

    *2:多次取放测量同点位数据的最大三倍标准差值,数据为针对50um厚度双抛玻璃片进行实验的结果



    产品咨询

    留言框

    • 产品:

    • 您的单位:

    • 您的姓名:

    • 联系电话:

    • 常用邮箱:

    • 省份:

    • 详细地址:

    • 补充说明:

    • 验证码:

      请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
    Baidu
    map