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  • FS-1FilmSense三维形貌仪

    FilmSense三维形貌仪可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析,适用于薄膜材料的快速测量表征.

    更新时间: 2024-01-19
    型号: FS-1
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 14983
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