欢迎来到雷竞技rebat入口 网站!
雷竞技rebat入口
咨询热线

4008529632

当前位置:首页>产品中心>膜厚仪>

  • FR-Scanner自动化高速薄膜厚度测量仪

    显示器薄膜测量仪*的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此,在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。

    更新时间: 2024-01-19
    型号: FR-Scanner
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 5306
  • FR-pRoThetametrisis膜厚测量仪

    Thetametrisis膜厚测量仪FR-pRo是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备,用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层。

    更新时间: 2024-01-19
    型号: FR-pRo
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 3865
  • FR-Mic全自动带显微镜多点测量

    FR-Mic 多层膜厚度测试仪是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,可以将光斑缩小到几个微米,进而分析微小区域或者粗糙表面薄膜特征。

    更新时间: 2024-01-19
    型号: FR-Mic
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 4292
  • FR-Mic全自动带显微镜多点测量膜厚仪

    硬化涂层膜厚仪是一款快 速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,要求的光斑尺寸小到几个微米,如微图案表面,粗糙表面及许多其他表面。

    更新时间: 2024-01-19
    型号: FR-Mic
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 9020
  • UltraFilm薄膜测量系统

    系统可以为各种材质薄膜提供高精度的厚度均匀性测量。使用创新的融合光谱反射技术、近红外干涉技术以及高亮度光源驱动的光谱椭偏仪技术的多传感器融合测量技术,是国内可以实现同质膜厚全自动检测的系统。

    更新时间: 2024-01-19
    型号:
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 248
  • QuickOCT-4D--膜厚轮廓仪

    QuickOCT-4D™ 将单点可见光光谱域光学相干断层扫描 (SD-OCT) 传感器与高速纳米编码的 X/Y/Z 运动控制平台相结合,可以在高达 66 kHz 的单次测量中捕获透明薄膜样品中每层的平面。QuickOCT-4D™ 穿透深度(高达 100μm)和轴向分辨率 (5nm) 针对半导体、生命科学和制药行业的多层透明薄膜、平面基板和功能层的测量进行了优化。

    更新时间: 2024-01-19
    型号:
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 233
共 27 条记录,当前 1 / 5 页 首页 上一页 下一页 末页跳转到第
Baidu
map