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当前位置:首页>产品中心>膜厚仪>Thetametrisis膜厚仪

  • FR-Scanner自动化高速薄膜厚度测量仪

    显示器薄膜测量仪*的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此,在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。

    更新时间: 2024-03-19
    型号: FR-Scanner
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 6687
  • FR-Mic全自动带显微镜多点测量

    FR-Mic 多层膜厚度测试仪是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,可以将光斑缩小到几个微米,进而分析微小区域或者粗糙表面薄膜特征。

    更新时间: 2024-03-19
    型号: FR-Mic
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 4649
  • FR-uProbe-LC光学显微镜适配器

    FR-uProbe-LC: 可测量小至几微米的光斑尺寸应用,例如微图案表面、高粗糙度表面的样品等等只需单击鼠标即可在 Vis/NIR波长范围中测量微小区域薄膜厚度、光学常数、反射率、透射率和吸光度

    更新时间: 2024-04-08
    型号: FR-uProbe-LC
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 245
  • FR-Scanner-AIO-Mic-XY300

    FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自动薄膜厚度测绘系统,用于全自动图案化晶圆上的单层和多层涂层厚度测量。电动X-Y载物台提供适用尺寸 300mm x 300mm毫米的行程,通过真空固定在载台上时进行精确测量。可依测量厚度和波长范围应用需求可在在 200-1700nm 光谱范围内提供各种光学配置

    更新时间: 2024-04-08
    型号:
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 317
  • FR-Mic:全自动带显微镜多点测量膜厚仪

    硬化涂层膜厚仪是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,要求的光斑尺寸小到几个微米,如微图案表面,粗糙表面及许多其他表面。

    更新时间: 2024-03-19
    型号:
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 531
  • FR-pRo:Thetametrisis膜厚测量仪

    Thetametrisis膜厚测量仪FR-pRo是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备,用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层。

    更新时间: 2024-03-19
    型号:
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 603
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