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当前位置:首页>产品中心>3D形貌仪/白光干涉轮廓仪>彩色共聚焦轮廓仪

  • QuickPRO-RPS--旋转剖面仪

    专为测量旋转对称样品的表面形貌和透明薄膜的厚度而设计,如金刚石车削光学表面和模塑或抛光的非球面透镜

    更新时间: 2024-01-19
    型号:
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 200
  • QuickPRO-3D--表面轮廓仪

    适用于光学、工业和半导体市场的高速、中精度、经济实惠的表面轮廓仪,纳米分辨率彩色共聚焦传感器(可配制点和线传感器),为在线过程测量和控制而设计,结构紧凑,易于上下片和操作,可配制成独立系统(X/Y/Z) 和附加升级至LAS (C/R/Z),多种样品处理能力

    更新时间: 2024-01-19
    型号:
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 200
  • QuickPRO-CUBE非接触式双表面轮廓仪

    通过集成一对单点,非接触式,纳米分辨率的彩色共聚焦传感器与高速,纳米编码的X/Y/Z协调运动,QuickPRO-CUBE™捕获同步的前,后和基准表面3D点云地形,用于托盘中的单镜头或微镜头的几何表征。形式不变运动架构允许测量旋转对称和更复杂的非轴对称或自由形状,最大测量直径为50mm(高达75mm外径)。根据镜头直径和3D点云采样密度的不同,每个镜头每个表面的总测量时间从30秒到240秒不等。

    更新时间: 2024-01-19
    型号: QuickPRO-CUBE
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 214
  • QuickOCT-4D —膜厚轮廓仪

    QuickOCT-4D™ 将单点可见光光谱域光学相干断层扫描 (SD-OCT) 传感器与高速纳米编码的 X/Y/Z 运动控制平台相结合,可以在高达 66 kHz 的单次测量中捕获透明薄膜样品中每层的平面。QuickOCT-4D™ 穿透深度(高达 100μm)和轴向分辨率 (5nm) 针对半导体、生命科学和制药行业的多层透明薄膜、平面基板和功能层的测量进行了优化。

    更新时间: 2024-01-19
    型号:
    厂商性质: 代理商
    浏览量: 197
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