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LAS-XUP-VIS™
LAS-UP-VIS™
LAS-P-VIS™
LAS-BT-VIS™ NextGen
UltraFilm - 薄膜测量系统
UltraShape - 晶圆关键尺寸测量系统
UltraINSP - 晶圆表面缺陷检测系统
MESA系列 磁性测量系统
WLA-5000 - 磁传感器晶圆水平仪
WLA-3000 晶圆水平仪
7AF-HMG SiC研磨机
6EZ-碳化硅抛光机
LAS系列组装和检查红外系统
UltraINSP 晶圆表面缺陷检测系统
UltraShape 晶圆关键尺寸测量系统
UltraFilm薄膜测量系统
FR-Ultra NIR N3 晶圆厚度测量系统
QuickOCT-4D--膜厚轮廓仪